Cover Image

Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
 експерименти з вивченн...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Date:2009
Main Authors: Гомза, Ю.П., Клепко, В.В., Несін, С.Д., Лисенков, Е.А., Куницький, Ю.А., Барабаш, М.Ю., Хоменко, Л.Г.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости
 надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков,
 Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Similar Items