Применение метода спектральной интерферометрии для измерения микро- и нанорасстояний
Представлены результаты исследований оптической интерферометрии на основе низкокогерентных источников излучения вне зоны когерентности. Показано, что когда разность плеч интерферометра Майкельсона превышает длину когерентности 
 излучения светодиода, явление спектральной интерференции...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Радіофізика та електроніка |
|---|---|
| Дата: | 2011 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України
2011
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78038 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Применение метода спектральной интерферометрии для измерения микро- и нанорасстояний / К.А. Лукин, Ю.П. Мачехин, М.Б. Данаилов, Д.Н. Татьянко // Радіофізика та електроніка. — 2011. — Т. 2(16), № 1. — С. 39-45. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |