Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources

• Veröffentlicht in: Вопросы атомной науки и техники
• Datum: 2005
• Hauptverfasser: Mordyk, S.M., Shulha, D.P., Miroshnichenko, V.I., Storizhko, V.E., Voznyy, V.I.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2005
• Schlagworte: Экспериментальные методы и обработка даных
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81234
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources / S.M. Mordyk, D.P. Shulha, V.I. Miroshnichenko, V.E. Storizhko, V.I. Voznyy // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 6. — С. 81-86. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

The paraxial brightness in rf ion sources can be improved by redistributing the beam phase density, increasing the beam current density and using beam extraction systems with low aberrations. Experimental data are presented for the central region of a hydrogen or helium ion beam extracted from a...