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Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources

The paraxial brightness in rf ion sources can be improved by redistributing the beam phase density, increasing the beam current density and using beam extraction systems with low aberrations. Experimental data are presented for the central region of a hydrogen or helium ion beam extracted from a...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Вопросы атомной науки и техники
Datum:	2005
Hauptverfasser:	Mordyk, S.M., Shulha, D.P., Miroshnichenko, V.I., Storizhko, V.E., Voznyy, V.I.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2005
Schlagworte:	Экспериментальные методы и обработка даных
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81234
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources / S.M. Mordyk, D.P. Shulha, V.I. Miroshnichenko, V.E. Storizhko, V.I. Voznyy // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 6. — С. 81-86. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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