Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources
The paraxial brightness in rf ion sources can be improved by redistributing the beam phase density, increasing the beam current density and using beam extraction systems with low aberrations. Experimental data are presented for the central region of a hydrogen or helium ion beam extracted from a...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2005
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81234 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Possibilities of improving paraxial brightness in rf ion sources / S.M. Mordyk, D.P. Shulha, V.I. Miroshnichenko, V.E. Storizhko, V.I. Voznyy // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 6. — С. 81-86. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |