Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів
Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати...
Saved in:
| Date: | 2014 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2014
|
| Series: | Математичні машини і системи |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-84333 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-843332025-02-09T14:10:27Z Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів Метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors Нікітенко, Є.В. Інформаційні і телекомунікаційні технології Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів. Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его поиска с учетом внешних факторов. The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined. Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well as to localize its search area taking into account external factors. 2014 Article Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. 1028-9763 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 004.02 uk Математичні машини і системи application/pdf Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Ukrainian |
| topic |
Інформаційні і телекомунікаційні технології Інформаційні і телекомунікаційні технології |
| spellingShingle |
Інформаційні і телекомунікаційні технології Інформаційні і телекомунікаційні технології Нікітенко, Є.В. Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів Математичні машини і системи |
| description |
Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів. |
| format |
Article |
| author |
Нікітенко, Є.В. |
| author_facet |
Нікітенко, Є.В. |
| author_sort |
Нікітенко, Є.В. |
| title |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_short |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_full |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_fullStr |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_full_unstemmed |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_sort |
метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
| publishDate |
2014 |
| topic_facet |
Інформаційні і телекомунікаційні технології |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 |
| citation_txt |
Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
| series |
Математичні машини і системи |
| work_keys_str_mv |
AT níkítenkoêv metodpošukunespravnostejuskladnihelektronnihpriladahzurahuvannâmzovníšníhfaktorív AT níkítenkoêv metodpoiskaneispravnostejvsložnyhélektronnyhustrojstvahsučetomvnešnihfaktorov AT níkítenkoêv searchingmethodoffailureinhighendtechnologytakingintoaccountexternalfactors |
| first_indexed |
2025-11-26T17:31:07Z |
| last_indexed |
2025-11-26T17:31:07Z |
| _version_ |
1849874993592139776 |
| fulltext |
70 © Нікітенко Є.В., 2014
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1
УДК 004.02
Є.В. НІКІТЕНКО*
МЕТОД ПОШУКУ НЕСПРАВНОСТЕЙ У СКЛАДНИХ ЕЛЕКТРОННИХ
ПРИЛАДАХ З УРАХУВАННЯМ ЗОВНІШНІХ ФАКТОРІВ
*
Чернігівський національний технологічний університет, Чернігів, Україна
Анотація. Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних
електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних
пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час
на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування
зовнішніх факторів.
Ключові слова: діагностика, функціональний елемент.
Аннотация. Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в
сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных
электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает
возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его
поиска с учетом внешних факторов.
Ключевые слова: диагностика, функциональный элемент.
Abstract. The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined.
Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been
proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well
as to localize its search area taking into account external factors.
Keywords: diagnostics, functional element.
1. Вступ
Кількість компонентів електроніки, які випускаються та експлуатуються в даний час,
досягла значних масштабів. Складні пристрої створюються з ряду більш простіших за
конструкцією та функціями елементів. Такі пристрої можна розглядати як самостійні, що
здатні виконувати деякі прості задачі.
Може настати момент, коли електронний прилад виходить з ладу, і для того, щоб
подовжити термін його дії, необхідно знайти та відремонтувати або замінити несправний
блок. Це потрібно зробити якомога швидше й ефективніше, тим самим зменшивши час
простою приладу. Перебирання всіх елементів приладу і перевірка їх на справність не є
ефективною, так як це може потребувати значних витрат часу та ресурсів. Тому необхідно
використовувати метод, який більш конкретно вкаже на частину електронного пристрою, в
якому потрібно шукати несправність.
На сьогоднішній день існує ряд методів пошуку несправностей на рівні
функціональних елементів, що є більш зручними при пошуку дефектів. Головним їх
недоліком являється те, що вони не враховують зовнішні фактори, які впливали,
наприклад, під час експлуатації приладу.
2. Аналіз досліджень і публікацій
Одним із методів пошуку несправностей є метод, заснований на побудові таблиць
несправностей. Будь-який електронний пристрій може бути поділений на самостійні
блоки, які, у свою чергу, можуть ділитись на більш прості. Межею такого поділу є
функціональні блоки, які в достатній мірі локалізують несправність.
У рамках даного методу функціональний елемент (ФЕ) може вважатись так званим
первинним при умові, що він має лише один вихідний сигнал, інакше ФЕ потребує
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1 71
подальшого ділення на більш прості до тих пір, поки не буде досягнуто умови, яка
потребує не більше одного вихідного сигналу [1].
Блоки об'єднуються зв'язками, які вказують на напрямок проходження сигналу.
Використовуючи такий метод опису приладу, будується таблиця всіх несправностей та при
необхідності їх комбінацій. Для окремої несправності будується перевірочна комбінація
сигналів. При необхідності пошуку блока, що вийшов з ладу, використовується та
комбінація сигналів, яка здатна виявити конкретну несправність. Проблемою даного
методу є складність побудови таблиці несправностей у випадку великого числа ФЕ в
системі і обмеження кількості виходів у блоці.
Під ФЕ можна також розуміти і логічний елемент, так як він є окремою одиницею,
що виконує логічно завершену задачу. Прикладом алгоритму, який базується на логічних
елементах, є D-алгоритм.
Суть алгоритму полягає в пошуку такої вхідної комбінації сигналів, яка здатна
знайти ту чи іншу несправність в електронному пристрої. Для кожного логічного елемента
будується логічний куб, який виключає комбінації, що не можуть дати ніякої корисної
інформації при пошуку несправності [2]. Даний алгоритм має дуже вузьконаправлену
область застосування, так як покриває лише логічні елементи, а якщо є необхідність
перевірки аналогових блоків, то така операція є неможливою. Також алгоритм не
передбачає операцій, які б ураховували зовнішній вплив на досліджуваний пристрій.
Метою даної роботи є розробка методу пошуку несправностей у складних
електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає
можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також більш конкретно
локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів, під впливом
яких знаходився прилад.
3. Основні аналітичні залежності
В даному методі пошуку несправного елемента пристрій, що досліджується,
представляється у вигляді орієнтованого графа причинно-наслідкових зв'язків
),( FE
i
FE
ii QWFE , де FE
iW – множина вершин графа iFE , а FE
iQ – відображення FE
iW
в
FE
iW . Вершиною графа є функціональний елемент, який являє собою окрему частину
головного пристрою, здатну виконувати логічно завершену задачу [3].
Для ФЕ граф причинно-наслідкових зв'язків встановлює вплив вхідних сигналів на
формування сигналів на виході ФЕ. Таким чином, “причина” – сигнал на вході ФЕ, а “на-
слідок” – його вплив на формування сигналу на виході. У функціональному елементі будь-
який причинно-наслідковий зв'язок реалізується у вигляді електричних з'єднань, але розг-
лядається у вигляді “шляхів” розповсюдження сигналів (орієнтованих зв'язків, що мають
напрямок). Множина вершин графа і-го ФЕ визначається як { }ii
FE
i YXW ,= , де
{ }i
n
ii
i xxxX ,,, 21 …= – сукупність входів iFE , { }i
m
ii
i yyyY ,,, 21 …= – сукупність виходів iFE .
Матриця впливу iA входів ФЕ на його виходи буде мати вигляд (1)
i
m
i yy
m
nn
m
i
n
i
i
aa
aa
x
x
A
…
⋯
⋮⋱⋮
⋯
⋮
1
1
1
1
11
= . (1)
Правила заповнення матриці визначаються таким чином (2):
72 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1
=
.виходу формування на впливає невходу сигнал якщо,0
, виходу формування на впливаєвходу сигнал якщо,1
i
j
j
t
i
j
j
tj
t
y x
y x
a (2)
Досліджуваний пристрій, що складається з N функціональних елементів, задається у
вигляді орієнтованого графа ),( DUDU QWDU , де DUW – множина вершин графа неспра-
вного пристрою, DUQ – відображення DUW в DUW . Множина вершин графа визнача-
ється як { }00 ,, YWXW FEDU = , де { }00
2
0
10 ,,, kxxxX …= – сукупність входів пристрою,
{ }FE
N
FEFEFE WWWW ,,, 21 …= – сукупність вершин функціональних елементів, що входять
до складу приладу; { }00
2
0
10 ,,, pyyyY …= – сукупність виходів.
На основі вищесказаного визначимо вигляд матриці логічних зв'язків несправного
пристрою як квадратну матрицю суміжності В, що складається з підматриць (3):
.
0
0
0210
2
1
0
2
1
0
YWWWX
N
FE
N
FE
FE
FE
N
FEFE
C
C
C
Y
W
W
W
X
B
⋯
⋯⋯⋯⋯⋯
⋯⋯⋯⋯⋯
⋯⋯⋯⋯⋯⋯
⋯⋯⋯⋯⋯
⋯⋯⋯⋯⋯
⋯⋯⋯⋯⋯
⋯
= (3)
Тут на головній діагоналі знаходяться матриці суміжностей відповідних функціона-
льних елементів ( )NCC ,,1… , за виключенням нульових матриць впливу входів і виходів
несправного пристрою на самих себе. На місці “… ” знаходяться підматриці впливу входів
і виходів пристрою і функціональних елементів один на одного.
При даному описанні вважається, що зв'язки між різними функціональними елемен-
тами є завжди у справному стані. Якщо є необхідність у перевірці зв'язків між функціона-
льними елементами на несправність, то їх необхідно задавати як окремі функціональні
блоки.
Вагою вершини DUWs ∈ по виходу 0Yk ∈ будемо називати число V, що характе-
ризує значимість перевірки вершини s при некоректному сигналі на виході k.
Логічною оцінкою k
sO вершини DUWs ∈ по виходу 0Yk ∈ є булева змінна, що ві-
дповідає умовам, представленим нижче (4):
1, якщо вершина є вершиною, що призводить до нормальної роботи вихід ,
0, якщо вершина є вершиною, що призводить до несправності на виході .
k
s
s k
O
s k
=
(4)
Функція sF за умови необхідності перевірки вершини s елемента iFE представляє со-
бою диз'юнкцію логічних оцінок по цьому виходу функціонального елемента виходів не-
справного пристрою
***
,, l
s
l
s OO … , по яких спостерігається відмова або некоректність сиг-
налу, і всіх виходів пристрою з оцінками
***
,, k
s
k
s OO … , в яких значення виходу лежить у
рамках допуску (5):
+++
++=
****** k
s
k
s
l
s
l
ss OOOOF …… . (5)
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1 73
Усі виходи несправного пристрою повинні бути доступні для спостережень та замі-
рів. Тоді, описавши таким чином модель електронного пристрою, можна визначити поря-
док перевірки елементів на несправність.
Розглянемо алгоритм визначення значимості перевірки функціональних блоків при
несправності на одному із виходів. Нехай М – допоміжна змінна, яка слугує для
накопичення значимості перевірки вершини та збільшується з ходом виконання алгоритму
(рис. 1).
Рис. 1. Блок-схема алгоритму зважування виводів функціональних елементів
У результаті виконання алгоритму всі вершини мають певну вагу, що відповідає
значимості перевірки. Після чого логічним оцінкам k
sO , для яких 0>k
sV , присвоюємо
логічний “0”, що вказує на можливість несправності у відповідній вершині. Аналогічно
проводиться дослідження для виходів, значення сигналу яких лежить у межах норми,
присвоївши логічну одиницю “1”, що вказує на справність відповідного виходу.
Початок
Присвоюємо вагам (V) всіх виводів нуль
Відмічаємо в матриці досліджувані виводи
Допоміжній змінній М присвоюємо 1
Відмічаємо в матриці В стовпці, що відповідають до-
сліджуваним виходам.
Присвоюємо їм значення М
Відмічаємо рядки в матриці В, в яких у вибраних
стовпчиках знаходиться 1
М=М+1
Є відмічені рядки?
Кінець
Так
Ні
74 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1
Рис. 2. Блок-схема етапу коригування ваги
Обчислюємо значення функції sF для всіх виходів. Тим самим визначаємо
необхідність перевірки того чи іншого виходу. Якщо sF =1, то при формуванні сигналу
хоча б одного із виходів досліджуваного пристрою вихід s видає штатний відклик, а
Початок
Масив виводів Е[ ]
Розташування виводів по зро-
станню значення ваги
Процедура згладжування різ-
ниці ваги між виводами
J – кількість факторів
I=0
J>0
Кінець
I<E.lenght
J=J-1
I=0
F(E[І],J) в межах
допуску
V(E[I])=V(E[I])+E.lenght
I=I+1
V(E[I])=V(E[I])+
Middle(E[I],J)/Range(E[I],J)
Так Ні
Так Ні
Так Ні
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1 75
Вивід 1
Вага 12
Вивід 2
Вага 7
Вивід 3
Вага 14
Вивід 4
Вага 15
Вивід 5
Вага 3
Вивід 5
Вага 3
Вивід 2
Вага 7
Вивід 1
Вага 12
Вивід 3
Вага 14
Вивід 4
Вага 15
Рис. 3. Приклад перестановки виводів
Вивід 5
Вага 3
Вивід 2
Вага 7
Вивід 1
Вага 12
Вивід 3
Вага 14
Вивід 4
Вага 15
Вивід 5
Вага 1
Вивід 2
Вага 2
Вивід 1
Вага 3
Вивід 3
Вага 4
Вивід 4
Вага 5
Рис. 4. Приклад процедури згладжування значень ваг
виходячи з цього, не потребує перевірки. Якщо значення sF =0, то вихід потребує
перевірки. Це дає змогу звузити сукупність функціональних блоків, які необхідно
перевірити.
Після того, як були визначені виводи, що підлягають перевірці, та їх вага, наступає
етап коригування ваги.
Блок-схема на рис. 2 представляє алгоритм роботи етапу коригування ваг після їх
оцінки базовим методом.
Розташування ваги виводів по зростанню значення ваги необхідно для наступного
кроку алгоритму. Після базового зважування немає ніякої гарантії у впорядкуванні ваги по
порядку. Як правило, вони приходять у випадковому порядку. На рис. 3 представлений
приклад перестановки виводів згідно з вагою, отриманою за базовим алгоритмом. Значен-
ня ваги має таку велику різницю, тому що це лише частина виводів, які необхідно переві-
ряти. Слід нагадати, що процедуру зважування проходять усі виводи в електронному при-
строї, які можуть вплинути на роботу несправного виходу.
На наступному етапі необхідно провести процедуру згладжування значень ваги. Зада-
чею даного етапу є зменшення різниці ваги виводів (рис. 4).
Виводу з найменшою вагою присвоюємо значення, рівне одиниці, наступному за
ним – значення двійки і т.д., на кожному кроці збільшуючи значення ваги на один до тих
пір, доки не будуть перебрані всі виводи. В результаті даної процедури ми зберігаємо логі-
чну відповідність між вагами виводів і зменшуємо різницю, що може нам заважати на на-
ступному етапі алгоритму.
76 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1
Рис. 5. Температурний датчик MAX6602
Масив Е – це всі виводі, що необхідно перевірити, які визначені базовим алгорит-
мом.
Кількість зовнішніх факторів має бути як мінімум один або більше. Наприклад, во-
логості буде відповідати номер 1, а номер 2 буде належати температурі. Порядок нумерації
зовнішніх факторів не має значення і може бути змінений без наслідків.
Під зовнішніми факторами розуміємо умови, за яких експлуатувався електронний
прилад, наприклад, температура, вологість, вібрація і т.д. Розглянемо формулу коригуван-
ня ваги:
extora VVV += lg , (6)
де oraV lg – це розраховане за алгоритмом і нормоване значення ваги, extV – значення, яке
визначається за такою формулою:
Jfactfactfactext VVVV +++= …
21
, (7)
де
Jfactfactfact VVV ,,,
21
… – вага з урахуванням даних про зовнішні фактори, J – кількість
зовнішніх факторів, за якими проводиться коригування ваги. Значення кожного окремого
фактора може бути в діапазоні [0,1].
Змінна І слугує в ролі лічильника для послідовного перебору елементів масиву.
Функція F(E[I], J) повертає булево значення, що говорить про те, чи знаходиться
значення фактора J в межах допуску для досліджуваного виводу E[I]. Під межами допуску
слід розуміти мінімальну та максимальну межі значення конкретного фактора для обрано-
го виводу.
Наприклад, візьмемо температурний датчик MAX6602, що використовується в ноу-
тбуках серії ThinkPad (рис. 5).
Згідно з його те-
хнічними характеристи-
ками, діапазон робочих
температур складає від -
40°C до +80°C. Нехай
ми знаємо, що більшість
часу експлуатації він
знаходився при +10°C.
Таким чином, функція
F(E[I], J) повертає
TRUE, так як значення
фактора, в нашому ви-
падку температури, ле-
жить у межах допуску.
Функція V(E[I])
повертає значення вже
підрахованої ваги для конкретного виводу. Туди додається значення нормалізованої ваги
та ваги, що підрахована з урахуванням зовнішніх факторів.
Функція Middle(E[I], J) повертає середнє значення фактора J для виводу E[I], при
якому пристрій знаходився під час експлуатації. Чим більш достовірно буде вказаний да-
ний параметр, тим більш точно буде скоригована вага. Якщо неможливо вказати дані для
конкретного елемента, то можна використовувати дані батьківського блока, якщо такий
існує. Якщо немає ніяких даних, то всюди вказується нуль (мінімальна та максимальна
межі, середнє значення), це ніяк не вплине на вагу, але слід розуміти, що це нашкодить то-
чності коригування ваги.
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1 77
Рис. 6. Зсув меж та середнього значення
Рис. 7. Приклад графічного інтерфейсу системи
У залежності від значення функції F(E[I], J) ми можемо піти по одному із двох шля-
хів.
1) Якщо значення фактора виходить за межі допуску, то значення ваги збільшується
на кількість елементів, які необхідно перевірити. Це необхідно для того, щоб поставити
даний вивід першим у черзі на перевірку, так як імовірність виходу із ладу елемента, умо-
ви експлуатації якого були порушені, вище, ніж того, який експлуатувався згідно з вимо-
гами.
2) Якщо значення фактора знаходиться в межах допуску, то до ваги додаємо відсот-
кове співвідношення середнього значення та області допуску. Це потрібно для підняття в
черзі на перевірку елементів, які експлуатувались за межами своїх можливостей, але не
перетнули їх.
Розглянемо підрахунок відсоткового співвідношення на прикладі того ж температу-
рного датчика MAX6602. Нехай середня
температура його експлуатації складає
17°C (рис. 6). За таких даних підрахува-
ти значення складно, тому необхідно
зрушити ліву межу на нуль, відповідно
будуть зрушені права межа та середнє
значення. Всі ці 3 числа потрібно збіль-
шити на 40. Саме таке значення необ-
хідно додати до лівої межі, щоб зрівняти
її з нулем.
Щоб підрахувати відсоткове співвідношення, потрібно середнє значення поділити
на праву межу. Це буде число в діапазоні [0,1]. Якщо значення одного фактора буде близь-
ким до межі, це не дуже вплине на значення нової ваги, але якщо таких факторів буде де-
кілька, то такий елемент може бути піднятим на одну чи більше сходинок, тим самим він
має бути перевірений раніше інших.
У результаті роботи алгоритму ми отримуємо набір виводів із скоригованим зна-
ченням ваги, які необхідно перевіряти при появі несправності на конкретному виході елек-
тронного пристрою.
Результати роботи розробленого алгоритму можна перевірити перебором етапів
крок за кроком аналіти-
чно, але це доволі дов-
гий і складний процес.
Так як не існує відкри-
тих реалізацій базового
алгоритму, то постає
необхідність у власній
реалізації.
Система пред-
ставляє собою реаліза-
цію на платформі Java.
Програма складається з
графічного інтерфейсу
користувача, бази да-
них та внутрішньої ло-
гіки (рис. 7).
Інтерфейс дає
можливість побудови
внутрішньої структури досліджуваного пристрою. Користувач може вказати, з яких функ-
78 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1
Рис. 8. Приклад вікна введення даних про зовнішні
фактори
ціональних блоків складається при-
стрій, які зв'язки між блоками та які
зв'язки всередині блоків. Під зв'язками
розуміємо причинно-наслідкові з'єд-
нання між елементами.
У системі передбачено три типи
блоків, за допомогою яких можна опи-
сати пристрій, а саме:
1) TYPICAL. Цей блок, що пред-
ставляє сам функціональній елемент,
може мати зліченну кількість входів і
виходів.
2) IN. Блок, що вказує на сигна-
льні входи електронного пристрою.
3) OUT. Блок, що представляє
значення сигналів виходів пристрою,
доступних для спостереження.
Кожному блоку можна задати
ім'я. Інтерфейс побудований так, що ко-
ристувач може переміщати елементи в
межах робочої зони і розміщувати їх
так, як йому зручно.
На наступному кроці після опису
пристрою користувачу буде запропоновано вказати, на якому із виходів спостерігається
несправність. Після чого система із множини всіх елементів виділить потенційно несправ-
ні і запропонує вказати для них значення зовнішніх факторів (рис. 8).
На фінальному кроці система скоригує значення ваги і виведе перелік елементів та
порядок їх перевірки (рис. 9).
Рис. 9. Приклад виведення результатів
Після чого можна провести коригування ваги функціонального елемента, базуючись
на зовнішніх факторах.
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 1 79
Ряд обраних зовнішніх параметрів може бути зміненим у залежності від конкретних
потреб при пошуку причини несправності або наявних даних про умови його експлуатації.
Чим більше буде використано оціночних параметрів, тим більше зменшиться час на пошук
несправного елемента, так як на перший план буде висуватись функціональний елемент,
який найбільш схильний до зовнішніх впливів.
4. Висновки
На основі існуючих методів пошуку несправностей електронних пристроїв було розробле-
но метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовні-
шніх факторів. Даний метод зменшує час на пошук несправного функціонального блока у
несправному електронному пристрої, так як черга на перевірку функціонального елемента,
який експлуатувався в недопустимих умовах або близьких до них, наступає раніше. Тим
самим несправний блок буде знайдений раніше.
Чим більше буде використано даних про зовнішні фактори, тим менше буде витра-
чено часу на знаходження несправного функціонального елемента.
Метод дає можливість уникнути безсистемного і необдуманого пошуку несправно-
сті при поломці електронного пристрою.
СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ
1. Сердаков А.С. Автоматический контроль и техническая диагностика / Сердаков А.С. – Киев:
Техника, 1971. – 244 с.
2. Сапожников В.В. Основы технической диагностики: учебн. пособ. для вузов железнодорожного
транспорта / В.В. Сапожников, Вл.В. Сапожников. – М.: Маршрут, 2004. – 318 с.
3. Об одном варианте решения технического диагностирования радиоэлектронных средств /
А.В. Дубов, А.П. Капранов, В.В. Сускин [и др.] // Управление большими системами: надежность и
диагностика средств и систем управления. – 2010. – № 31. – С. 363 – 377.
Стаття надійшла до редакції 10.12.2013
|