Аналіз ближньопольового методу оптичного запису інформації мікросмужковим зондом в освітлювальному режимі
Проаналізовано процес оптичного зчитування інформації ближньопольовим зондом на базі оптичної плазмонної мікросмужкової лінії з оптичних дисків формату ROM. Розраховано параметри ближньопольового оптичного зчитування інформації залежно від розмірів мікросмужкового зонда. Встановлено, що характер роз...
Saved in:
| Published in: | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
|---|---|
| Date: | 2013 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87073 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Аналіз ближньопольового методу оптичного запису інформації мікросмужковим зондом в освітлювальному режимі / А.С. Лапчук, Є.М. Морозов // Реєстрація, зберігання і обробка даних. — 2013. — Т. 15, № 3. — С. 3-19. — Бібліогр.: 20 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Проаналізовано процес оптичного зчитування інформації ближньопольовим зондом на базі оптичної плазмонної мікросмужкової лінії з оптичних дисків формату ROM. Розраховано параметри ближньопольового оптичного зчитування інформації залежно від розмірів мікросмужкового зонда. Встановлено, що характер розподілу потоку потужності електромагнітного поля біля вершини зонда залежить від довжини зонда та товщини металевого покриття. Показано, що інтерференційні ефекти на вершині зонда суттєво впливають на параметри сканувального ближньопольового оптичного мікроскопа.
Process of optical information reading by near-field probe based on optical plasmon microstrip line from ROM-format optical disk is analyzed. Parameters of optical near-field optical reading depending on size of microstrip probe are calculated. Found that a pattern of flow of electromagnetic fields at top of probe depends on length of probe and thickness of metal coating. It is shown that interference effects at top of probe significantly affect the parameters of scanning near-field optical microscope.
|
|---|---|
| ISSN: | 1560-9189 |