Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний

Исследовано влияние температурного уширения энергетических состояний на температурную зависимость ширины запрещенной зоны полупроводника. Моделированием процесса теплового уширения, численным анализом установлено, что коэффициент температурного изменения ширины запрещенной зоны зависит от энергети...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физическая инженерия поверхности
Дата:2012
Автори: Гулямов, Г., Шарибаев, Н.Ю.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2012
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98962
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний / Г. Гулямов, Н.Ю. Шарибаев // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 2. — С. 221–225. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98962
record_format dspace
spelling Гулямов, Г.
Шарибаев, Н.Ю.
2016-04-19T16:41:12Z
2016-04-19T16:41:12Z
2012
Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний / Г. Гулямов, Н.Ю. Шарибаев // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 2. — С. 221–225. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98962
539.21: 621.315.592
Исследовано влияние температурного уширения энергетических состояний на температурную зависимость ширины запрещенной зоны полупроводника. Моделированием процесса теплового уширения, численным анализом установлено, что коэффициент температурного изменения ширины запрещенной зоны зависит от энергетической плотности состояний и присутствия дискретных уровней в запрещенной зоне. Результаты расчетов хорошо согласуются с экспериментальными данными.
Досліджено вплив температурного розширення енергетичних станів на температурну залежність ширини забороненої зони напівпровідника. Моделюванням процесу теплового розширення, числовим аналізом установлено, що коефіцієнт температурного змінювання ширини забороненої зони залежить від енергетичної щільності станів і присутності дискретних рівнів у забороненій зоні. Результати розрахунків добре погоджуються з експериментальними даними.
The effect of thermal broadening of energy states in the temperature dependence of the band gap of the semiconductor. Simulation of the thermal broadening, the numerical analysis showed that the rate of temperature change in the band gap depends on the energy density of states and the presence of discrete levels in the forbidden zone. The calculation results are in good agreement with experimental data.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
spellingShingle Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
Гулямов, Г.
Шарибаев, Н.Ю.
title_short Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
title_full Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
title_fullStr Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
title_full_unstemmed Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний
title_sort температурная зависимость ширины запрещенной зоны si и связь с тепловым уширением плотности состояний
author Гулямов, Г.
Шарибаев, Н.Ю.
author_facet Гулямов, Г.
Шарибаев, Н.Ю.
publishDate 2012
language Russian
container_title Физическая инженерия поверхности
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
format Article
description Исследовано влияние температурного уширения энергетических состояний на температурную зависимость ширины запрещенной зоны полупроводника. Моделированием процесса теплового уширения, численным анализом установлено, что коэффициент температурного изменения ширины запрещенной зоны зависит от энергетической плотности состояний и присутствия дискретных уровней в запрещенной зоне. Результаты расчетов хорошо согласуются с экспериментальными данными. Досліджено вплив температурного розширення енергетичних станів на температурну залежність ширини забороненої зони напівпровідника. Моделюванням процесу теплового розширення, числовим аналізом установлено, що коефіцієнт температурного змінювання ширини забороненої зони залежить від енергетичної щільності станів і присутності дискретних рівнів у забороненій зоні. Результати розрахунків добре погоджуються з експериментальними даними. The effect of thermal broadening of energy states in the temperature dependence of the band gap of the semiconductor. Simulation of the thermal broadening, the numerical analysis showed that the rate of temperature change in the band gap depends on the energy density of states and the presence of discrete levels in the forbidden zone. The calculation results are in good agreement with experimental data.
issn 1999-8074
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98962
citation_txt Температурная зависимость ширины запрещенной зоны Si и связь с тепловым уширением плотности состояний / Г. Гулямов, Н.Ю. Шарибаев // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 2. — С. 221–225. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT gulâmovg temperaturnaâzavisimostʹširinyzapreŝennoizonysiisvâzʹsteplovymušireniemplotnostisostoânii
AT šaribaevnû temperaturnaâzavisimostʹširinyzapreŝennoizonysiisvâzʹsteplovymušireniemplotnostisostoânii
first_indexed 2025-12-07T19:44:39Z
last_indexed 2025-12-07T19:44:39Z
_version_ 1850879958450176000