Особливості структури сколотих поверхонь шаруватих кристалів GaSe‹Sn›

The processes of formation of nanosized defects on the surfaces of layered crystals and the formation of semi-conductor nanostructures on them have been studied. The atomic force microscopy method for examination of the surface morphological characteristics has been used. Morphological features of n...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Pashayev, A. M., Tagiev, B. G., Safarzade, A. A.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Chuiko Institute of Surface Chemistry National Academy of Sciences of Ukraine 2011
Онлайн доступ:https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/125
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Chemistry, Physics and Technology of Surface

Репозитарії

Chemistry, Physics and Technology of Surface