Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)

• Date: 2016
• Author Affiliations: Y. N. Kozyrev — Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка Національної академії наук України; V. S. Lysenko — Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України; Y. V. Gomeniuk — нститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України; O. S. Kondratenko — Київський національний університет імені Тараса Шевченка; S. A. Iliash — Київський національний університет імені Тараса Шевченка; S. V. Kondratenko — Київський національний університет імені Тараса Шевченка
• Keywords: keywords
• Main Authors: Kozyrev, Y. N., Lysenko, V. S., Gomeniuk, Y. V., Kondratenko, O. S., Iliash, S. A., Kondratenko, S. V.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Chuiko Institute of Surface Chemistry National Academy of Sciences of Ukraine 2016
• Online Access: https://surfacezbir.com.ua/index.php/surface/article/view/620
• Journal Title: Surface

The Ge and SiGe nanocrystalline films were grown on Si(001) surface by molecular-beam epitaxy. The optical constants of thin films were determined by multy-angle monochromatic ellipsometry. Optical properties of such systems were described using the Bruggeman's theory of effective medium approx...