Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator

Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: Yevich, N. L., Prokopenko, Y. Y.
Формат: Стаття
Мова:rus
Опубліковано: Видавничий дім «Академперіодика» 2012
Онлайн доступ:http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Radio physics and radio astronomy

Репозиторії

Radio physics and radio astronomy