Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator
Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | rus |
| Опубліковано: |
Видавничий дім «Академперіодика»
2012
|
| Онлайн доступ: | http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Radio physics and radio astronomy |
Репозитарії
Radio physics and radio astronomy| id |
oai:ri.kharkov.ua:article-468 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:ri.kharkov.ua:article-4682012-11-12T01:41:57Z Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Yevich, N. L. Prokopenko, Y. Y. Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оцен- ки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя. Видавничий дім «Академперіодика» 2012-11-12 Article Article application/pdf http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 РАДИОФИЗИКА И РАДИОАСТРОНОМИЯ; Vol 15, No 4 (2010); 462 RADIO PHYSICS AND RADIO ASTRONOMY; Vol 15, No 4 (2010); 462 РАДІОФІЗИКА І РАДІОАСТРОНОМІЯ; Vol 15, No 4 (2010); 462 2415-7007 1027-9636 rus http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468/33 |
| institution |
Radio physics and radio astronomy |
| collection |
OJS |
| language |
rus |
| format |
Article |
| author |
Yevich, N. L. Prokopenko, Y. Y. |
| spellingShingle |
Yevich, N. L. Prokopenko, Y. Y. Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| author_facet |
Yevich, N. L. Prokopenko, Y. Y. |
| author_sort |
Yevich, N. L. |
| title |
Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_short |
Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_full |
Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_fullStr |
Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_full_unstemmed |
Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_sort |
microwave determination method of thicknesses of dielectric materials using a beam scanning radiator |
| title_alt |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| description |
Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. |
| publisher |
Видавничий дім «Академперіодика» |
| publishDate |
2012 |
| url |
http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 |
| work_keys_str_mv |
AT yevichnl microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator AT prokopenkoyy microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator AT yevichnl mikrovolnovojmetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammojnapravlennosti AT prokopenkoyy mikrovolnovojmetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammojnapravlennosti |
| first_indexed |
2024-05-26T06:33:11Z |
| last_indexed |
2024-05-26T06:33:11Z |
| _version_ |
1800095863547101184 |