Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов
A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided...
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |