Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов

A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автор: Spirin, V. G.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment