Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов
A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided...
Gespeichert in:
| Datum: | 2004 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2004
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1865123547337195520 |
|---|---|
| author | Spirin, V. G. |
| author_facet | Spirin, V. G. |
| author_sort | Spirin, V. G. |
| baseUrl_str | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-05-13T21:34:08Z |
| description | A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided. |
| first_indexed | 2026-05-14T01:00:23Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-1147 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-05-14T01:00:23Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-11472026-05-13T21:34:08Z Evaluation of manufacturing errors in thin-film components Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов Spirin, V. G. test circuit manufacturing systematic and random errors thin-film components calculation algorithm тестовая схема производственные систематические и случайные погрешности тонкопленочные элементы алгоритм расчета A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided. Разработаны тестовая схема и алгоритмы расчета для определения систематических и случайных погрешностей конструктивных параметров тонкопленочного резистора. Проведена экспериментальная оценка этих погрешностей. Приведены формулы для расчета размеров проводников и контактных площадок. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004-08-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50 Technology and design in electronic equipment; No. 4 (2004): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature ; 50-53 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 4 (2004): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 50-53 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50/1047 Copyright (c) 2004 V. G. Spirin http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | тестовая схема производственные систематические и случайные погрешности тонкопленочные элементы алгоритм расчета Spirin, V. G. Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title | Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title_alt | Evaluation of manufacturing errors in thin-film components |
| title_full | Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title_fullStr | Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title_full_unstemmed | Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title_short | Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| title_sort | оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов |
| topic | тестовая схема производственные систематические и случайные погрешности тонкопленочные элементы алгоритм расчета |
| topic_facet | test circuit manufacturing systematic and random errors thin-film components calculation algorithm тестовая схема производственные систематические и случайные погрешности тонкопленочные элементы алгоритм расчета |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50 |
| work_keys_str_mv | AT spirinvg evaluationofmanufacturingerrorsinthinfilmcomponents AT spirinvg ocenkaproizvodstvennyhpogrešnostejtonkoplenočnyhélementov |