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Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов

A test circuit and calculation algorithms have been developed to determine systematic and random errors in the design parameters of a thin-film resistor. An experimental evaluation of these errors has been conducted. Formulas for calculating the dimensions of conductors and contact pads are provided...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2004
1. Verfasser:	Spirin, V. G.
Format:	Artikel
Sprache:	Ukrainisch
Veröffentlicht:	PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004
Schlagworte:	тестовая схема производственные систематические и случайные погрешности тонкопленочные элементы алгоритм расчета
Online Zugang:	https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.4.50
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Назва журналу:	Technology and design in electronic equipment

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Technology and design in electronic equipment

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