Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility o...
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1865304757319499776 |
|---|---|
| author | Pavljuk, S. P. Ishchuk, L. V. Kislitsyn, V. M. |
| author_facet | Pavljuk, S. P. Ishchuk, L. V. Kislitsyn, V. M. |
| author_sort | Pavljuk, S. P. |
| baseUrl_str | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-05-15T19:36:50Z |
| description | The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility of selecting a diode crystal soldering mode, under which it heats up uniformly, based on its radiation, is demonstrated. |
| first_indexed | 2026-05-16T01:00:37Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-1167 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-05-16T01:00:37Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-11672026-05-15T19:36:50Z Rapid method for quality control of semiconductor diode crystals Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Pavljuk, S. P. Ishchuk, L. V. Kislitsyn, V. M. thermal field diode diagnostics recombination тепловое поле диод диагностика рекомбинация The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility of selecting a diode crystal soldering mode, under which it heats up uniformly, based on its radiation, is demonstrated. тепловое поле, диод, диагностика, рекомбинация. Обоснована возможность использования инфракрасного излучения полупроводников для экспресс-диагностики качества полупроводниковых диодных кристаллов. Разработан метод разделения рекомбинационной и тепловой составляющей излучения разогретого диодного кристалла. Показана возможность подбора режима пайки диодного кристалла, при котором он разогревается однородно, по его излучению. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004-06-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2004): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 62-64 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2004): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 62-64 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62/1067 Copyright (c) 2004 Pavljuk S. P., Ishchuk L. V., Kislitsyn V. M. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | тепловое поле диод диагностика рекомбинация Pavljuk, S. P. Ishchuk, L. V. Kislitsyn, V. M. Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_alt | Rapid method for quality control of semiconductor diode crystals |
| title_full | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_fullStr | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_full_unstemmed | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_short | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_sort | экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| topic | тепловое поле диод диагностика рекомбинация |
| topic_facet | thermal field diode diagnostics recombination тепловое поле диод диагностика рекомбинация |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62 |
| work_keys_str_mv | AT pavljuksp rapidmethodforqualitycontrolofsemiconductordiodecrystals AT ishchuklv rapidmethodforqualitycontrolofsemiconductordiodecrystals AT kislitsynvm rapidmethodforqualitycontrolofsemiconductordiodecrystals AT pavljuksp ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT ishchuklv ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT kislitsynvm ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov |