Buchumschlag

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility o...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2004
Hauptverfasser:	Pavljuk, S. P., Ishchuk, L. V., Kislitsyn, V. M.
Format:	Artikel
Sprache:	Ukrainisch
Veröffentlicht:	PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004
Schlagworte:	тепловое поле диод диагностика рекомбинация
Online Zugang:	https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment

Ähnliche Einträge

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
von: Павлюк, С.П., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
von: Turtsevich, A. S., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского
von: Kovtun, G. P., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Умножители частоты миллиметрового диапазона на полупроводниковых диодных структурах
von: Карушкин, Н.Ф.
Veröffentlicht: (2018)

Применение полупроводниковых детекторов для учета и контроля РАО
von: Давыдов, Л.Н., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин
von: Добровольский, Ю.Г.
Veröffentlicht: (1999)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Rogov, R. V., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристаллах CdHgTe
von: Vlasenko, A. I., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Рогов, Р.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
von: Popov, V. M., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Частотный метод контроля качества гальванопокрытий
von: Безотосный, В.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2011)

ПРО РОЗВ'ЯЗАННЯ ОБЕРНЕНОЇ ЗАДАЧІ ВИЗНАЧЕННЯ ОБЛАСТІ РОЗМІЩЕННЯ ДЖЕРЕЛА ТЕПЛА ПРИ ВІДОМИХ ЗНАЧЕННЯХ ЗОВНІШНЬОЇ ТЕМПЕРАТУРНОЇ АНОМАЛІЇ В СЕРЕДОВИЩІ MATLAB
von: Мосенцова, Людмила Викторовна
Veröffentlicht: (2011)

Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
von: Надточий, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Формирование нанопленок Cu, Ag, Au под воздействием атомов водорода
von: Zhavzharov, E. L., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
von: Garkavenko, A. S., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Экспериментальное доказательство экситонно-плазменного фазового перехода Мотта
von: Garkavenko, A. S.
Veröffentlicht: (2010)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
von: Гаркавенко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (2014)

О применении метода акустической эмиссии для контроля промышленных конструкций
von: Недосека, А.Я., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
von: Гаркавенко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Термоэлектрический прибор для медико-биологической экспресс-диагностики
von: Ashcheulov, A. A., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа
von: Krasnov, V. A., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Совершенствование методов контроля геометрической формы стальных вертикальных резервуаров при техническом диагностировании
von: Радыш, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Пассивация поверхности германиевых диодных структур наночастицами
von: Болгов, С.С., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
von: Будянский, А.М., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Диодный сенсор температуры: анализ приборной погрешности измерения
von: Ivashchenko, A. N., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Экспресс-метод оценки длины трещины гидроразрыва
von: Хапилова, Н.С., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
von: Ascheulov, А. А., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Кредитный мониторинг, как метод контроля качества кредитного портфеля банка
von: Байрам, У.Р.
Veröffentlicht: (2007)

Взвешенные коды с суммированием для организации контроля логических устройств
von: Сапожников, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2014)

CFD-моделирование радиатора для воздушного охлаждения микропроцессоров в ограниченном пространстве
von: Trofimov, V. E., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Экспресс-метод оценки изменений температуры элементов РЭА
von: Oborskii, G. A., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Исследование допустимой импульсной мощности кремниевой p+–p–n+-структуры
von: Karimov, A. V., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Разработка конструкции и технологии изготовления диодов Ганна для КВЧ-терапии
von: Ivanov, V. N., et al.
Veröffentlicht: (2004)

ОЦЕНКА СРОКОВ СЛУЖБЫ ЭЛЕКТРОДВИГАТЕЛЕЙ, РАБОТАЮЩИХ В ПОВТОРНО-КРАТКОВРЕМЕННЫХ РЕЖИМАХ
von: Федоров, М.М., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Экспресс-метод оценки изменений температуры элементов РЭА
von: Оборский, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя
von: Kudryk, Ya. Ya.
Veröffentlicht: (2009)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
von: Garkavenko, A. S., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Метод оценки требуемого объема выборки
von: Долгин, В.П.
Veröffentlicht: (2012)

Экспресс-метод определения тепловых потоков в глубоких скважинах
von: Стасенко, В.Н.
Veröffentlicht: (2013)