Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility o...
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipmentСхожі ресурси
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
за авторством: Turtsevich, A. S., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Turtsevich, A. S., та інші
Опубліковано: (2012)
Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского
за авторством: Kovtun, G. P., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Kovtun, G. P., та інші
Опубліковано: (2004)
Умножители частоты миллиметрового диапазона на полупроводниковых диодных структурах
за авторством: Карушкин, Н.Ф.
Опубліковано: (2018)
за авторством: Карушкин, Н.Ф.
Опубліковано: (2018)
Применение полупроводниковых детекторов для учета и контроля РАО
за авторством: Давыдов, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Давыдов, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2002)
Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин
за авторством: Добровольский, Ю.Г.
Опубліковано: (1999)
за авторством: Добровольский, Ю.Г.
Опубліковано: (1999)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)
Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристаллах CdHgTe
за авторством: Vlasenko, A. I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Vlasenko, A. I., та інші
Опубліковано: (2004)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
за авторством: Popov, V. M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Popov, V. M., та інші
Опубліковано: (2011)
Частотный метод контроля качества гальванопокрытий
за авторством: Безотосный, В.Ф., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Безотосный, В.Ф., та інші
Опубліковано: (2011)
ПРО РОЗВ'ЯЗАННЯ ОБЕРНЕНОЇ ЗАДАЧІ ВИЗНАЧЕННЯ ОБЛАСТІ РОЗМІЩЕННЯ ДЖЕРЕЛА ТЕПЛА ПРИ ВІДОМИХ ЗНАЧЕННЯХ ЗОВНІШНЬОЇ ТЕМПЕРАТУРНОЇ АНОМАЛІЇ В СЕРЕДОВИЩІ MATLAB
за авторством: Мосенцова, Людмила Викторовна
Опубліковано: (2011)
за авторством: Мосенцова, Людмила Викторовна
Опубліковано: (2011)
Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)
Формирование нанопленок Cu, Ag, Au под воздействием атомов водорода
за авторством: Zhavzharov, E. L., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Zhavzharov, E. L., та інші
Опубліковано: (2015)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
Экспериментальное доказательство экситонно-плазменного фазового перехода Мотта
за авторством: Garkavenko, A. S.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Garkavenko, A. S.
Опубліковано: (2010)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
О применении метода акустической эмиссии для контроля промышленных конструкций
за авторством: Недосека, А.Я., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Недосека, А.Я., та інші
Опубліковано: (2003)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
Термоэлектрический прибор для медико-биологической экспресс-диагностики
за авторством: Ashcheulov, A. A., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Ashcheulov, A. A., та інші
Опубліковано: (2004)
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа
за авторством: Krasnov, V. A., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Krasnov, V. A., та інші
Опубліковано: (2008)
Совершенствование методов контроля геометрической формы стальных вертикальных резервуаров при техническом диагностировании
за авторством: Радыш, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Радыш, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
Пассивация поверхности германиевых диодных структур наночастицами
за авторством: Болгов, С.С., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Болгов, С.С., та інші
Опубліковано: (2008)
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
за авторством: Будянский, А.М., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Будянский, А.М., та інші
Опубліковано: (2001)
Диодный сенсор температуры: анализ приборной погрешности измерения
за авторством: Ivashchenko, A. N., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Ivashchenko, A. N., та інші
Опубліковано: (2005)
Экспресс-метод оценки длины трещины гидроразрыва
за авторством: Хапилова, Н.С., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Хапилова, Н.С., та інші
Опубліковано: (2008)
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
за авторством: Ascheulov, А. А., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Ascheulov, А. А., та інші
Опубліковано: (2007)
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
за авторством: Ащеулов, А.А., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Ащеулов, А.А., та інші
Опубліковано: (2007)
Кредитный мониторинг, как метод контроля качества кредитного портфеля банка
за авторством: Байрам, У.Р.
Опубліковано: (2007)
за авторством: Байрам, У.Р.
Опубліковано: (2007)
Взвешенные коды с суммированием для организации контроля логических устройств
за авторством: Сапожников, В.В., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Сапожников, В.В., та інші
Опубліковано: (2014)
CFD-моделирование радиатора для воздушного охлаждения микропроцессоров в ограниченном пространстве
за авторством: Trofimov, V. E., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Trofimov, V. E., та інші
Опубліковано: (2016)
Экспресс-метод оценки изменений температуры элементов РЭА
за авторством: Oborskii, G. A., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Oborskii, G. A., та інші
Опубліковано: (2014)
Исследование допустимой импульсной мощности кремниевой p+–p–n+-структуры
за авторством: Karimov, A. V., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Karimov, A. V., та інші
Опубліковано: (2011)
Разработка конструкции и технологии изготовления диодов Ганна для КВЧ-терапии
за авторством: Ivanov, V. N., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Ivanov, V. N., та інші
Опубліковано: (2004)
ОЦЕНКА СРОКОВ СЛУЖБЫ ЭЛЕКТРОДВИГАТЕЛЕЙ, РАБОТАЮЩИХ В ПОВТОРНО-КРАТКОВРЕМЕННЫХ РЕЖИМАХ
за авторством: Федоров, М.М., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Федоров, М.М., та інші
Опубліковано: (2012)
Экспресс-метод оценки изменений температуры элементов РЭА
за авторством: Оборский, Г.А., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Оборский, Г.А., та інші
Опубліковано: (2014)
Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя
за авторством: Kudryk, Ya. Ya.
Опубліковано: (2009)
за авторством: Kudryk, Ya. Ya.
Опубліковано: (2009)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
Метод оценки требуемого объема выборки
за авторством: Долгин, В.П.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Долгин, В.П.
Опубліковано: (2012)
Экспресс-метод определения тепловых потоков в глубоких скважинах
за авторством: Стасенко, В.Н.
Опубліковано: (2013)
за авторством: Стасенко, В.Н.
Опубліковано: (2013)