Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС
The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the stu...
Збережено в:
| Опубліковано в: | Технологія та конструювання в електронній апаратурі |
|---|---|
| Дата: | 2002 |
| Випуск: | 6 |
| Сторінки: | 10-13 |
| ISSN: | 3083-6549 |
| Автори та афіліації: |
|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | В'єтнамська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2002
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.6.10 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
| Завантажити файл: | |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| Резюме: | The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the studied ceramic samples, their thermal aging processes are described by the stretched exponential relaxation function of De Bast–Gillard or Williams–Watts. |
|---|---|
| ISSN: | 3083-6549 |