Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС

The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the stu...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в:Технологія та конструювання в електронній апаратурі
Дата:2002
Випуск:6
Сторінки:10-13
ISSN:3083-6549
Автори та афіліації:
  • V. A. Balitskaya — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
  • N. M. Vakiv — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
  • O. I. Shpotyuk — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
Автори: Balitskaya, V. A., Vakiv, N. M., Shpotyuk, O. I.
Формат: Стаття
Мова:В'єтнамська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2002
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.6.10
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment
Завантажити файл: Pdf

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
Опис
Резюме:The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the studied ceramic samples, their thermal aging processes are described by the stretched exponential relaxation function of De Bast–Gillard or Williams–Watts.
ISSN:3083-6549