Повышение радиационной устойчивости кремниевых монокристаллических эпитаксиальных слоев

The authors investigate the possibility of increasing the radiation resistance of silicon epitaxial layers by creating radiation defects sinks in the form of dislocation networks of the density of 109–1012 m–2. Such networks are created before the epitaxial layer is applied on the front sur...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2014
Автори: Kurmashev, Sh. D., Kulinich, O. A., Brusenskaya, G. I., Verem’eva, A. V.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2014
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2014.5-6.57
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment