Дослідження динамічних ВАХ Si-фотодіодів в області малих струмів за допомогою комп’ютеризованого вимірювального комплексу

Studying the current-voltage characteristics (IVC) of photodiodes, as well as any other device with a p–n junction, allows us to determine their quality and compliance with the stated requirements for reverse dark current. However, in the development and production of photodiodes, dark currents are...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в:Технологія та конструювання в електронній апаратурі
Дата:2025
Випуск:1–2
Сторінки:38-44
ISSN:3083-6549
Автори та афіліації:
  • Oleg Kshevetskyi — Yurii Fedkovych Chernivtsi National University, Chernivtsy, Ukraine
  • Yuriy Dobrovolsky — Yurii Fedkovych Chernivtsi National University, Chernivtsy, Ukraine
  • Rostyslav Diachuk — Yurii Fedkovych Chernivtsi National University, Chernivtsy, Ukraine — ORCID: 0000-0002-6259-3302
Автори: Kshevetskyi, Oleg, Dobrovolsky, Yuriy, Diachuk, Rostyslav
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2025
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2025.1-2.38
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment
Завантажити файл: Pdf

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment