Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
The thermal mathematical model is used to estimate self-heating of semiconductor devices of various types during current-voltage characteristics measuring by the pulse method. The influence of self-heating on electrical parameters of semiconductor devices is analyzed. The recommendations for determi...
Saved in:
| Date: | 2012 |
|---|---|
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.14 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1856543854288699392 |
|---|---|
| author | Yermolenko, Ye. O. Bondarenko, O. F. Baranov, O. M. |
| author_facet | Yermolenko, Ye. O. Bondarenko, O. F. Baranov, O. M. |
| author_sort | Yermolenko, Ye. O. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2025-09-19T16:00:28Z |
| description | The thermal mathematical model is used to estimate self-heating of semiconductor devices of various types during current-voltage characteristics measuring by the pulse method. The influence of self-heating on electrical parameters of semiconductor devices is analyzed. The recommendations for determination of values of measuring pulse sequence parameters are formulated to minimize self-heating of semiconductor structure. |
| first_indexed | 2025-09-24T17:30:54Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-419 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-09-24T17:30:54Z |
| publishDate | 2012 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-4192025-09-19T16:00:28Z Thermal mathematical model of semiconductor devices for measurement of current-voltage characteristics by pulse method Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом Yermolenko, Ye. O. Bondarenko, O. F. Baranov, O. M. current-voltage characteristics semiconductor device pulse method of measurement thermal model вольт-амперная характеристика полупроводниковый прибор импульсный способ измерения тепловая модель The thermal mathematical model is used to estimate self-heating of semiconductor devices of various types during current-voltage characteristics measuring by the pulse method. The influence of self-heating on electrical parameters of semiconductor devices is analyzed. The recommendations for determination of values of measuring pulse sequence parameters are formulated to minimize self-heating of semiconductor structure. В работе тепловая математическая модель использована для оценки саморазогрева полупроводниковых приборов в процессе измерения их вольт-амперной характеристики импульсным способом. Проанализировано влияние саморазогрева на электрические параметры полупроводниковых приборов. Сформулированы рекомендации по выбору значений параметров измерительной импульсной последовательности, использование которых позволяет минимизировать саморазогрев полупроводниковой структуры. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012-10-23 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.14 Technology and design in electronic equipment; No. 5 (2012): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 14-18 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 14-18 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.14/378 Copyright (c) 2012 Yermolenko Ye. O., Bondarenko O. F., Baranov O. M. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | вольт-амперная характеристика полупроводниковый прибор импульсный способ измерения тепловая модель Yermolenko, Ye. O. Bondarenko, O. F. Baranov, O. M. Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title | Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title_alt | Thermal mathematical model of semiconductor devices for measurement of current-voltage characteristics by pulse method |
| title_full | Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title_fullStr | Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title_full_unstemmed | Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title_short | Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом |
| title_sort | тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении вах импульсным способом |
| topic | вольт-амперная характеристика полупроводниковый прибор импульсный способ измерения тепловая модель |
| topic_facet | current-voltage characteristics semiconductor device pulse method of measurement thermal model вольт-амперная характеристика полупроводниковый прибор импульсный способ измерения тепловая модель |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.14 |
| work_keys_str_mv | AT yermolenkoyeo thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod AT bondarenkoof thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod AT baranovom thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod AT yermolenkoyeo teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom AT bondarenkoof teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom AT baranovom teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom |