Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом

• Дата: 2012
• Автори: Yermolenko, Ye. O., Bondarenko, O. F., Baranov, O. M.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012
• Теми: вольт-амперная характеристика; полупроводниковый прибор; импульсный способ измерения; тепловая модель
• Онлайн доступ: https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.14
• Назва журналу: Technology and design in electronic equipment

The thermal mathematical model is used to estimate self-heating of semiconductor devices of various types during current-voltage characteristics measuring by the pulse method. The influence of self-heating on electrical parameters of semiconductor devices is analyzed. The recommendations for determi...