Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра
An algorithm for the simulation and analysis of the parameters that determine the sensitivity of the photodiode surface-barrier structures based on n+–n-GaP–SnO2(F) has been developed. It has been shown that the monochromatic current sensitivity to radiation at wavelength of 250 nm in such a structu...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2012
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.31 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-423 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-4232025-09-19T16:00:28Z Photodiode based on GaP sensitized to short-wave region of UV spectrum Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра Dobrovol’skii, Yu. G. photodiode gallium phosphide computer design sensitivity фотодиод фосфид галлия компьютерное моделирование чувствительность An algorithm for the simulation and analysis of the parameters that determine the sensitivity of the photodiode surface-barrier structures based on n+–n-GaP–SnO2(F) has been developed. It has been shown that the monochromatic current sensitivity to radiation at wavelength of 250 nm in such a structure can reach 0,1–0,12 A/W. Разработан алгоритм для компьютерного моделирования и анализа параметров, определяющих чувствительность фотодиодов с поверхностно-барьерной структурой на основе n+–n-GaP–SnO2(F). Показано, что токовая монохроматическая чувствительность к излучению с длиной волны 250 нм у такой структуры может достигать 0,1–0,12 А/Вт. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012-10-23 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.31 Technology and design in electronic equipment; No. 5 (2012): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 31-34 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 31-34 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.31/382 Copyright (c) 2012 Dobrovol’skii Yu. G. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-09-19T16:00:28Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
фотодиод фосфид галлия компьютерное моделирование чувствительность |
| spellingShingle |
фотодиод фосфид галлия компьютерное моделирование чувствительность Dobrovol’skii, Yu. G. Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| topic_facet |
photodiode gallium phosphide computer design sensitivity фотодиод фосфид галлия компьютерное моделирование чувствительность |
| format |
Article |
| author |
Dobrovol’skii, Yu. G. |
| author_facet |
Dobrovol’skii, Yu. G. |
| author_sort |
Dobrovol’skii, Yu. G. |
| title |
Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| title_short |
Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| title_full |
Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| title_fullStr |
Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| title_full_unstemmed |
Фотодиод на основе GaP с повышенной чувствительностью в коротковолновой области УФ-спектра |
| title_sort |
фотодиод на основе gap с повышенной чувствительностью в коротковолновой области уф-спектра |
| title_alt |
Photodiode based on GaP sensitized to short-wave region of UV spectrum |
| description |
An algorithm for the simulation and analysis of the parameters that determine the sensitivity of the photodiode surface-barrier structures based on n+–n-GaP–SnO2(F) has been developed. It has been shown that the monochromatic current sensitivity to radiation at wavelength of 250 nm in such a structure can reach 0,1–0,12 A/W. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2012 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.31 |
| work_keys_str_mv |
AT dobrovolskiiyug photodiodebasedongapsensitizedtoshortwaveregionofuvspectrum AT dobrovolskiiyug fotodiodnaosnovegapspovyšennojčuvstvitelʹnostʹûvkorotkovolnovojoblastiufspektra |
| first_indexed |
2025-09-24T17:30:54Z |
| last_indexed |
2025-09-24T17:30:54Z |
| _version_ |
1850410252812419072 |