Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок

Expressions for calculating the measurement errors of X-ray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installa...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Dushkin, S. A., Ivanskiy, V. B., Kurov, A. M., Odinets, V. A., Orobinskiy, A. N.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2011
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.44
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment