Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
Expressions for calculating the measurement errors of X-ray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installa...
Gespeichert in:
| Datum: | 2011 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Dushkin, S. A., Ivanskiy, V. B., Kurov, A. M., Odinets, V. A., Orobinskiy, A. N. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2011
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.44 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentÄhnliche Einträge
-
Расчет характеристик рентгеновских установок
von: Orobinskyi, A. N.
Veröffentlicht: (2015) -
Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
von: Душкин, С.А., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
Система охлаждения испарительно-конденсационного типа для рентгеновских трубок
von: Gershuni, A. N., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения
von: Perevertailo, V. L.
Veröffentlicht: (2012) -
ПРИБЛИЖЕННЫЕ ГРАНИЧНЫЕ УСЛОВИЯ И КОЭФФИЦИЕНТЫ ЭКРАНИРОВАНИЯ ТОНКИХ ПРОВОДЯЩИХ ОБОЛОЧЕК
von: Бондина, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2012)