Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
Expressions for calculating the measurement errors of X-ray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installa...
Збережено в:
| Дата: | 2011 |
|---|---|
| Автори: | Dushkin, S. A., Ivanskiy, V. B., Kurov, A. M., Odinets, V. A., Orobinskiy, A. N. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2011
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.44 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipmentСхожі ресурси
-
Расчет характеристик рентгеновского излучения
за авторством: Dushkin, S. A., та інші
Опубліковано: (2008) -
Расчет характеристик рентгеновских установок
за авторством: Orobinskyi, A. N.
Опубліковано: (2015) -
Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
за авторством: Душкин, С.А., та інші
Опубліковано: (2011) -
Система охлаждения испарительно-конденсационного типа для рентгеновских трубок
за авторством: Gershuni, A. N., та інші
Опубліковано: (2011) -
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения
за авторством: Perevertailo, V. L.
Опубліковано: (2012)