Роль пластической деформации в получении нанокремния
The quantity and quality analysis of plastic deformation and near-surface silicon layers with nanostructure silicon formation are given in this paper. It is shown, due to high-temperature oxidation and other factors the complex defect structure is generated in near-surface silicon layers. It consist...
Saved in:
| Date: | 2011 |
|---|---|
| Main Authors: | Smyntyna, V. A., Kulinich, O. A., Yatsunkiy, I. R., Marchuk, I. A. |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.1-2.22 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentSimilar Items
-
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
by: Kulinich, О. А., et al.
Published: (2012) -
Роль пластической деформации в получении нанокремния
by: Смынтына, В.А., et al.
Published: (2011) -
Влияние слоя поликристаллического кремния на механизмы токопереноса в контактах «металл — p-кремний»
by: Smyntyna, V. A., et al.
Published: (2011) -
Повышение эффективности кремниевых солнечных элементов посредством нанопористого покрытия
by: Dzhafarov, T. D., et al.
Published: (2012) -
Исследование влияния электронного облучения на кремниевые тензорезисторы
by: Druzhinin, A. A., et al.
Published: (2010)