Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации

The VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering was carried out. The VLSI redundant elements choice method was proposed. This method was established on the base of the medium clustering defect distribution’s block size evaluation. That’s methods implementation pro...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2010
Автор: Shcherbakova, G. Yu.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2010
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.18
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment