Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур

• Дата: 2010
• Автори: Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Yu. M.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2010
• Теми: МДП-структуры; ртутный зонд; электрически активные дефекты; вольт-фарадные характеристики; механические напряжения
• Онлайн доступ: https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.35
• Назва журналу: Technology and design in electronic equipment

The construction of mercury microprobe has been proposed for measurement of electrophysical characteristics of semiconductor materials and IS(MIS) structures with 5—25 micron locality. Local electrophysical properties of technological Si–SiO2 structures with thin oxides in the region of ele...