Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
A new method of liquid‑crystal thermography for detecting “hot spots” in microelectronic device crystals has been developed. The method is based on the visual display of a “hot spot” by the local cholesteric phase within the transparent smectic phase of a cholesteric liquid crystal, against the clea...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.3.55 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1856543935392907264 |
|---|---|
| author | Popov, V. M. Klimenko, A. S. Pokanevich, A. P. |
| author_facet | Popov, V. M. Klimenko, A. S. Pokanevich, A. P. |
| author_sort | Popov, V. M. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-01-04T20:17:49Z |
| description | A new method of liquid‑crystal thermography for detecting “hot spots” in microelectronic device crystals has been developed. The method is based on the visual display of a “hot spot” by the local cholesteric phase within the transparent smectic phase of a cholesteric liquid crystal, against the clear background of the topological elements of the device crystal surface. Examples of “hot spot” visualization on samples of crystals of various types of integrated circuits are presented. |
| first_indexed | 2026-02-08T08:11:08Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-763 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-02-08T08:11:08Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-7632026-01-04T20:17:49Z An improved method for detection of “hot spots” in microelectronic devices Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники Popov, V. M. Klimenko, A. S. Pokanevich, A. P. “hot spots” visualization defects nematic and cholesteric liquid crystals liquid crystal phases integrated circuits «горячая точка» визуализация дефекты нематические и холестерические жидкие кристаллы жидкокристаллические фазы интегральные схемы A new method of liquid‑crystal thermography for detecting “hot spots” in microelectronic device crystals has been developed. The method is based on the visual display of a “hot spot” by the local cholesteric phase within the transparent smectic phase of a cholesteric liquid crystal, against the clear background of the topological elements of the device crystal surface. Examples of “hot spot” visualization on samples of crystals of various types of integrated circuits are presented. Разработан новый метод жидкокристаллической термографии «горячих точек» в кристаллах изделий микроэлектроники, основанный на использовании визуального отображения «горячей точки» локальной холестерической фазой в прозрачной смектической фазе холестерического жидкого кристалла на фоне четкого изображения топологических элементов поверхности кристала изделия. Приведены примеры отображения «горячих точек» на образцах кристаллов различных типов интегральных схем. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2008-06-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.3.55 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2008): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 55-58 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2008): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 55-58 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.3.55/691 Copyright (c) 2008 Popov V. M., Klimenko A. S., Pokanevich A. P. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | «горячая точка» визуализация дефекты нематические и холестерические жидкие кристаллы жидкокристаллические фазы интегральные схемы Popov, V. M. Klimenko, A. S. Pokanevich, A. P. Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_alt | An improved method for detection of “hot spots” in microelectronic devices |
| title_full | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_fullStr | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_full_unstemmed | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_short | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_sort | усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| topic | «горячая точка» визуализация дефекты нематические и холестерические жидкие кристаллы жидкокристаллические фазы интегральные схемы |
| topic_facet | “hot spots” visualization defects nematic and cholesteric liquid crystals liquid crystal phases integrated circuits «горячая точка» визуализация дефекты нематические и холестерические жидкие кристаллы жидкокристаллические фазы интегральные схемы |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.3.55 |
| work_keys_str_mv | AT popovvm animprovedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT klimenkoas animprovedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT pokanevichap animprovedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT popovvm usoveršenstvovannyjmetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT klimenkoas usoveršenstvovannyjmetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT pokanevichap usoveršenstvovannyjmetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT popovvm improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT klimenkoas improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT pokanevichap improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices |