Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
This work is devoted to the study of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates and raw materials using luminescence methods. It is proposed to employ luminescence under various types of excitation as a sensitive and informative rapid technique for detecting intrinsic and impurity p...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2006
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1862043265258225664 |
|---|---|
| author | Bletskan, D. I. Pekar, Ya. M. Lukyanchuk, A. R. |
| author_facet | Bletskan, D. I. Pekar, Ya. M. Lukyanchuk, A. R. |
| author_sort | Bletskan, D. I. |
| baseUrl_str | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-04-09T19:54:00Z |
| description | This work is devoted to the study of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates and raw materials using luminescence methods. It is proposed to employ luminescence under various types of excitation as a sensitive and informative rapid technique for detecting intrinsic and impurity point defects in sapphire crystals and substrates. |
| first_indexed | 2026-04-10T01:00:38Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-961 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-04-10T01:00:38Z |
| publishDate | 2006 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-9612026-04-09T19:54:00Z Investigation of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates by luminescence methods Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Bletskan, D. I. Pekar, Ya. M. Lukyanchuk, A. R. sapphire luminescence point defects impurities сапфир люминесценция точечные дефекты примеси This work is devoted to the study of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates and raw materials using luminescence methods. It is proposed to employ luminescence under various types of excitation as a sensitive and informative rapid technique for detecting intrinsic and impurity point defects in sapphire crystals and substrates. Работа посвящена исследованию собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках и исходном сырье при помощи люминесцентных методов. Предложено использовать люминесценцию при различных видах возбуждения в качестве чувствительного и информативного экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2006-06-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2006): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 59-64 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2006): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 59-64 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59/873 Copyright (c) 2006 Bletskan D. I., Lukyanchuk A. R., Pekar Ya. M. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | сапфир люминесценция точечные дефекты примеси Bletskan, D. I. Pekar, Ya. M. Lukyanchuk, A. R. Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_alt | Investigation of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates by luminescence methods |
| title_full | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_fullStr | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_full_unstemmed | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_short | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_sort | исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| topic | сапфир люминесценция точечные дефекты примеси |
| topic_facet | sapphire luminescence point defects impurities сапфир люминесценция точечные дефекты примеси |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59 |
| work_keys_str_mv | AT bletskandi investigationofintrinsicandimpuritypointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods AT pekaryam investigationofintrinsicandimpuritypointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods AT lukyanchukar investigationofintrinsicandimpuritypointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods AT bletskandi issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami AT pekaryam issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami AT lukyanchukar issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami |