Surface defects determining by the wave front scanner
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | N. S. Goloborodko, V. I. Grygoruk, V. N. Kurashov, D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2010
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349127 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Determination of surface defects by using the wavefront scanner
за авторством: Goloborodko, N.S., та інші
Опубліковано: (2010) -
Speckle pattern formation in spatially limited optical systems
за авторством: M. M. Kotov, та інші
Опубліковано: (2016) -
Speckle pattern formation in spatially limited optical systems
за авторством: Kotov, M.M., та інші
Опубліковано: (2016) -
Electronic scannering - the new form of the library service
за авторством: V. Sliusar
Опубліковано: (1998) -
Talbot sensor with diffraction grating adaptation to wavefront aberrations
за авторством: D. V. Podanchuk, та інші
Опубліковано: (2015)