Molodkin, V. B., Olikhovskii, S. I., Kyslovskyy, Y. M., Len, E. G., Reshetnyk, O. V., Vladimirova, T. P., . . . Lizunova, S. V. (2010). Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Molodkin, V. B., S. I. Olikhovskii, Ye. M. Kyslovskyy, E. G. Len, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, V. V. Lizunov, та S. V. Lizunova. Double- and Triple-crystal X-ray Diffractometry of Microdefects in Silicon. 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Molodkin, V. B., et al. Double- and Triple-crystal X-ray Diffractometry of Microdefects in Silicon. 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.