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Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2019
Hauptverfasser:	M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2019
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001073935
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