Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics

• Дата: 2019
• Автори: V. A. Vashchenko, I. V. Yatsenko, Yu. I. Kovalenko, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko, P. M. Lytvyn, A. A. Korchovyi, S. V. Mamykin, O. S. Kondratenko, V. P. Maslov, H. V. Dorozinska, G. V. Dorozinsky
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: 2019
• Назва видання: Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
• Онлайн доступ: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001073945
• Назва журналу: Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS