Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
Збережено в:
Дата: | 2019 |
---|---|
Автори: | V. A. Vashchenko, I. V. Yatsenko, Yu. I. Kovalenko, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko, P. M. Lytvyn, A. A. Korchovyi, S. V. Mamykin, O. S. Kondratenko, V. P. Maslov, H. V. Dorozinska, G. V. Dorozinsky |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2019
|
Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001073945 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Metrological Support for Wireless Sensor Systems
за авторством: V. T. Kondratov
Опубліковано: (2020) -
Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017) -
Improvement of metrology characteristics of sensor measuring systems
за авторством: F. B. Hrynevych, та інші
Опубліковано: (2013) -
Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2015)