Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2019
Hauptverfasser:	V. A. Vashchenko, I. V. Yatsenko, Yu. I. Kovalenko, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko, P. M. Lytvyn, A. A. Korchovyi, S. V. Mamykin, O. S. Kondratenko, V. P. Maslov, H. V. Dorozinska, G. V. Dorozinsky
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2019
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001073945
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