Electron and hole effective masses in heavily boron doped silicon nanostructures determined using cyclotron resonance experiments
Gespeichert in:
| Datum: | 2018 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | D. V. Savchenko, E. N. Kalabukhova, B. D. Shanina, N. T. Bagraev, L. E. Klyachkin, A. M. Malyarenko, V. S. Khromov |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2018
|
| Schriftenreihe: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000923036 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Features of piezoresistance in heavily doped n-silicon crystals
von: G. P. Gaidar
Veröffentlicht: (2013) -
Features of piezoresistance in heavily doped n-silicon crystals
von: Gaidar, G.P.
Veröffentlicht: (2013) -
Low temperature thermal conductivity of heavily boron-doped synthetic diamond: Influence of boron-related structure defects
von: D. Prikhodko, et al.
Veröffentlicht: (2019) -
Low temperature thermal conductivity of heavily boron-doped synthetic diamond: Influence of boron-related structure defects
von: Prikhodko, D., et al.
Veröffentlicht: (2019) -
Negative magnetoresistance of heavily doped silicon p-n junction
von: V. L. Borblik, et al.
Veröffentlicht: (2011)