Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness
Gespeichert in:
| Datum: | 2018 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2018
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| Schriftenreihe: | Journal of Thermoelectricity |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001094146 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |