Lukin, K. A., Tatjanko, D. N., Pikh, A. B., & Zemljanyj, O. V. (2017). Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Lukin, K. A., D. N. Tatjanko, A. B. Pikh, und O. V. Zemljanyj. Measurement of Thicknesses of Optically Transparent Layered Structures by the Spectral Interferometry Method. 2017.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Lukin, K. A., et al. Measurement of Thicknesses of Optically Transparent Layered Structures by the Spectral Interferometry Method. 2017.
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