Lukin, K. A., Tatjanko, D. N., Pikh, A. B., & Zemljanyj, O. V. (2017). Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Lukin, K. A., D. N. Tatjanko, A. B. Pikh, та O. V. Zemljanyj. Measurement of Thicknesses of Optically Transparent Layered Structures by the Spectral Interferometry Method. 2017.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Lukin, K. A., et al. Measurement of Thicknesses of Optically Transparent Layered Structures by the Spectral Interferometry Method. 2017.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.