Зображення обкладинки

Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2017
Автори:	K. A. Lukin, D. N. Tatjanko, A. B. Pikh, O. V. Zemljanyj
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2017
Назва видання:	Radiophysics and Electronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000685034
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Optical reflectometer based on the method of spectral interferometry
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2015)

Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods
за авторством: Yu. A. Rudiak, та інші
Опубліковано: (2015)

Experimental investigation of dynamic characteristics of thick-walled cylindrical shell by method of holographic interferometry
за авторством: Ja. Grigorenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Diagnostics of structures using methods of electron shearography and speckle-interferometry
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2013)

Phase method of ultrasonic thickness measurement
за авторством: Yu. V. Kuts, та інші
Опубліковано: (2013)

Approximate estimates of complex heat exchange in optically thickness and optically thin turbulent boundary layer
за авторством: A. A. Avramenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements
за авторством: V. I. Soroka
Опубліковано: (2015)

Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)

Resonator methods of measuring refractive index of a transparent substance in the terahertz range
за авторством: M. I. Dzjubenko, та інші
Опубліковано: (2014)

Thick layers liquid-phase epitaxy method
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of magnetic field to the allocation of imputiry molecules in the structure of optically transparent polymer films
за авторством: L. A. Bulavin, та інші
Опубліковано: (2016)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Spectral method to evaluate the uncertainty of dynamic measurements
за авторством: O. M. Vasilevskyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Features on realization of measurement system for geophysical metrological vibration platform based on the laser digital interferometry
за авторством: Kosyak, I. V., та інші
Опубліковано: (2015)

Magnetic method for determination of the thickness of protective concrete layer and diameter of rebars of building structures
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)

Determination of fatigue process zone size by the method of phase-shear interferometry
за авторством: O. P. Ostash, та інші
Опубліковано: (2010)

Domain of optical transparency of RE sesquisulfides in the far IR range of the spectrum
за авторством: V. F. Zinchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Thickness measurement of the stripper foil using modified nuclear-analytical method
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015)

Spectral methods of layer-by-layer determination of bottom materials lithologic features in prophilograms
за авторством: A. I. Honchar, та інші
Опубліковано: (2013)

ANALYSIS OF DUAL-FREQUENCY INTERFEROMETRY APPLICABILITY FOR TARGET ELEVATION ANGLE MEASUREMENT USING TWO-COORDINATE RADARS
за авторством: Galushko, V. G., та інші
Опубліковано: (2023)

Analysis of dual-frequency interferometry applicability for target elevation angle measurement using two-coordinate radars
за авторством: V. H. Halushko, та інші
Опубліковано: (2023)

New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
за авторством: A. A. Manko, та інші
Опубліковано: (2016)

Resonant transparency of a photonic crystal with a defect of layered superconducto
за авторством: S. S. Apostolov, та інші
Опубліковано: (2017)

Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)

Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)

Budak V.D., Grigorenko A.Ya., Khorishko V.V., Borisenko M.Yu. Natural Vibrations of Cylindrical Shells of Constant and Varying Thickness using Method of Holographic Interferometry
за авторством: V. D. Budak, та інші
Опубліковано: (2014)

Prediction of breaking pressure of a pipe with internal surface defect with application of laser interferometry methods
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2016)

The impact of material and thickness of the separation layer on the structure condensates Cu-Mo
за авторством: V. H. Hrechaniuk, та інші
Опубліковано: (2016)

Spectral photosensitivity of the m-n⁰-n structure on the basis of epitaxial layers
за авторством: Yodgorova, D.M., та інші
Опубліковано: (2008)

Registration of the rotation angle of light-beam polarization plane with the use of optically transparent ferrimagnetic crystals
за авторством: A. V. Skrypets, та інші
Опубліковано: (2012)

Registration of the rotation angle of light-beam polarization plane with the use of optically transparent ferrimagnetic crystals
за авторством: A. V. Skrypets, та інші
Опубліковано: (2012)

The influence of the working layer thickness on the properties of hot-pressed powder layered composites
за авторством: H. A. Bahliuk, та інші
Опубліковано: (2011)

Improvement of Geophysical Instruments Based on Digital Laser Interferometry
за авторством: Britsky, O. I.
Опубліковано: (2013)

High stability temperature control of the laser diode for interferometry
за авторством: Kosyak, I. V.
Опубліковано: (2016)

On integral model of transverse dynamic displacements of thick elastic layer
за авторством: V. A. Stojan, та інші
Опубліковано: (2013)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

On possibility of alpha-radioactive thick-layer waste analysis using high-vacuum technique methods
за авторством: Dikiy, N.P., та інші
Опубліковано: (2002)

Transient heat transfer and stress state in irradiated system which consists of different transparency layers
за авторством: R. F. Terletskyi, та інші
Опубліковано: (2016)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)