Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method

Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2017
Автори:	K. A. Lukin, D. N. Tatjanko, A. B. Pikh, O. V. Zemljanyj
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2017
Назва видання:	Radiophysics and Electronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000685034
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Optical reflectometer based on the method of spectral interferometry
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2015)

Determination of the distorted surface layer thickness in machined optically transparent polymer articles
за авторством: Khlapova, N.P., та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods
за авторством: Yu. A. Rudiak, та інші
Опубліковано: (2015)

Experimental investigation of dynamic characteristics of thick-walled cylindrical shell by method of holographic interferometry
за авторством: Ja. Grigorenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Simulation and automatization of measurements process in laser interferometry
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)

Simulation and automatization of measurements process in laser interferometry
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)

Phase method of ultrasonic thickness measurement
за авторством: Yu. V. Kuts, та інші
Опубліковано: (2013)

Diagnostics of structures using methods of electron shearography and speckle-interferometry
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2013)

Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements
за авторством: V. I. Soroka
Опубліковано: (2015)

Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)

Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2001)

Approximate estimates of complex heat exchange in optically thickness and optically thin turbulent boundary layer
за авторством: A. A. Avramenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Thick layers liquid-phase epitaxy method
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Resonator methods of measuring refractive index of a transparent substance in the terahertz range
за авторством: M. I. Dzjubenko, та інші
Опубліковано: (2014)

Experimental verification of a two-probe implemetration of microwave interferometry for displacement measurement
за авторством: Pylypenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Two-probe implementation of microwave interferometry for motion sensing and complex reflection coefficient measurement
за авторством: Pylypenko O.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of magnetic field to the allocation of imputiry molecules in the structure of optically transparent polymer films
за авторством: L. A. Bulavin, та інші
Опубліковано: (2016)

Measurements of plasma density in URAGAN-3M torsatron using dual-polarization interferometry
за авторством: Grekov, D.L, та інші
Опубліковано: (2012)

Magnetic method for determination of the thickness of protective concrete layer and diameter of rebars of building structures
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)

Optically transparent melamine-formaldehyde polymers modified with proton acceptors
за авторством: Lebedev, V.V., та інші
Опубліковано: (2009)

Spectral method to evaluate the uncertainty of dynamic measurements
за авторством: Vasilevskyi, O.M., та інші
Опубліковано: (2017)

Spectral method to evaluate the uncertainty of dynamic measurements
за авторством: O. M. Vasilevskyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Crystal optical method for temperature measuring
за авторством: Romanyuk, M.O., та інші
Опубліковано: (2002)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Thickness measurement of the stripper foil using modified nuclear-analytical method
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015)

Determination of fatigue process zone size by the method of phase-shear interferometry
за авторством: O. P. Ostash, та інші
Опубліковано: (2010)

Features on realization of measurement system for geophysical metrological vibration platform based on the laser digital interferometry
за авторством: Kosyak, I. V., та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of oxide layers on optical properties of copper in a wide spectral range
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Holographic interferometry as a method to study conformational changes in macromolecules
за авторством: Barabash, Y., та інші
Опубліковано: (2002)

Asymptotic analysis of the spectral Neumann problem in thick multi-structure of type 3:1:1
за авторством: Mel'nyk, T.A.
Опубліковано: (2005)

Spectral methods of layer-by-layer determination of bottom materials lithologic features in prophilograms
за авторством: A. I. Honchar, та інші
Опубліковано: (2013)

Holographic interferometry under phase distortions
за авторством: Derzhypolska, L.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Domain of optical transparency of RE sesquisulfides in the far IR range of the spectrum
за авторством: V. F. Zinchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Resonant transparency of a photonic crystal with a defect of layered superconducto
за авторством: S. S. Apostolov, та інші
Опубліковано: (2017)

Absorption coefficient of nearly transparent liquids measured using thermal lens spectrometry
за авторством: Cabrera, H., та інші
Опубліковано: (2006)

New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
за авторством: Manko, A.A., та інші
Опубліковано: (2016)

New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
за авторством: A. A. Manko, та інші
Опубліковано: (2016)

Optical and structure characteristics of vacuum-deposited layers
за авторством: Drobyshev, A.S.
Опубліковано: (1996)

Modelling of dual-polarization interferometry in stellarators
за авторством: Filippov, V., та інші
Опубліковано: (2019)

The impact of material and thickness of the separation layer on the structure condensates Cu-Mo
за авторством: V. H. Hrechaniuk, та інші
Опубліковано: (2016)