Physical properties of silicon sensor structures with photoelectric transformation on the basis of "deep" p–n-junction
Збережено в:
Дата: | 2017 |
---|---|
Автори: | A. V. Kozinetz, S. V. Litvinenko, V. A. Skryshevsky |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2017
|
Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000703699 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Physical properties of silicon sensor structures with photoelectric transformation on the basis of "deep" p–n-junction
за авторством: O. V. Kozynets, та інші
Опубліковано: (2017) -
Physical properties of sensor structures on the basis of silicon p−n junction with interdigitated back contacts
за авторством: O. V. Kozynets, та інші
Опубліковано: (2012) -
Physical properties of sensor structures on the basis of silicon p−n junction with interdigitated back contacts
за авторством: O. V. Kozynets, та інші
Опубліковано: (2012) -
Photoelectrical properties of nanoporous silicon
за авторством: A. I. Luchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Photoelectrical properties of nanoporous silicon
за авторством: Luchenko, A.I., та інші
Опубліковано: (2012)