X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2017
Hauptverfasser: V. A. Troitskij, S. R. Mikhajlov, R. O. Pastovenskij
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Schriftenreihe:Technical diagnostics and non-destructive testing
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507
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Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

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