X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors
Gespeichert in:
| Datum: | 2017 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | V. A. Troitskij, S. R. Mikhajlov, R. O. Pastovenskij |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2017
|
| Schriftenreihe: | Technical diagnostics and non-destructive testing |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
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