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X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	V. A. Troitskij, S. R. Mikhajlov, R. O. Pastovenskij
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Technical diagnostics and non-destructive testing
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507
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