Influence of X-ray irradiation on the optical absorption edge and refractive index dispersion in Cu6PS5I-based thin films deposited using magnetron sputtering
Збережено в:
Дата: | 2017 |
---|---|
Автори: | I. P. Studenyak, M. M. Kutsyk, A. V. Bendak, Yu. Izai, P. Kúš, M. Mikula |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2017
|
Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741633 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Electrical and optical parameters of Cu₆PS₅I-based thin films deposited using magnetron sputtering
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2016) -
Electrical and optical parameters of Cu6PS5I-based thin films deposited using magnetron sputtering
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2016) -
Structural and optical studies of Cu6PSe5I-based thin film deposited by magnetron sputtering
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2017) -
Optical absorption edge and luminescence in phosphorous-implanted Cu₆PS₅X (X = I, Br) single crystals
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2011) -
Optical absorption edge and luminescence in phosphorous-implanted Cu₆PS₅X (X = I, Br) single crystals
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2011)