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Influence of X-ray irradiation on the optical absorption edge and refractive index dispersion in Cu6PS5I-based thin films deposited using magnetron sputtering

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	I. P. Studenyak, M. M. Kutsyk, A. V. Bendak, Yu. Izai, P. Kúš, M. Mikula
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741633
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