Investigation of the influence of oxygen on the rate and anisotropy of deep etching of silicon in the plasma-chemical reactor with the controlled magnetic field
Gespeichert in:
| Datum: | 2017 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | V. V. Gladkovskij, O. A. Fedorovich |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2017
|
| Schriftenreihe: | Technology and design in electronic equipment |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000798647 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Experimental research of ICP reactor for plasma-chemical etching
von: Dudin, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2006) -
The bias voltage and its influence on the etching rate of silicon
von: Fedorovich, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2015) -
Influence of the plasma chemical etching on the silicon plates surface of photo electric converters
von: B. P. Polozov, et al.
Veröffentlicht: (2006) -
Development of deep silicon plasma etching for 3D integration technology
von: A. A. Golishnikov, et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching
von: Іваницький, В. П., et al.
Veröffentlicht: (2024)