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Influence of deep-level impurities on the strain electric properties of monocrystalline silicon

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	S. Zainabidinov, O. O. Mamatkarimov, O. Khimmatkulov, I. G. Tursunov
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Ukrainian journal of physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000812293
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